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XT V 160 - X射线检测系统

简要描述:

XT V 160也被称为Revolution,是利用X-Tek 20年纳米级焦点X射线技术方面的经验研制开发的产品。

更新时间:2017-02-26访问量:762

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XT V 160:电子检测用纳米技术(NanoTech) X射线系统 
XT V 160也被称为Revolution,是利用X-Tek 20年纳米级焦点X射线技术方面的经验研制开发的产品。

    该系统提供了一个结构紧凑的系统内可能获得的zui高分辨率和放大倍数,非常适用于生产线上和故障分析实验室内电子零部件的检测。
    XT V 160是一款通用工具,使操作人员很方便地利用该系统的手动和编程检测功能。zui为重要的是,它可用于计算机断层扫描CT检测,根据其完整的三维图像,重构该试样。 
    设计用于100% BGA和μBGA 检测,多层板检测和PCB焊接点检测,XT V 160 X射线检测系统是一个使用简便,分辨率高和成本低廉的检测解决方案,是检测实验室必不可少的骨干设备。

 

XT V 160 检测优点

  • 操作使用直观
  • 能在很短的时间内获得高质量图像
  • 市场的放大倍数,适用于100%板检测
  • 75°倾斜视角(板平面的方位角为15°)
  • 购置成本低
  • 安全装置,可作为设计标准
  • 占用空间小

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