产品中心您现在的位置:首页 > 产品展示 > 几何测量事业部 > 综合检测装置 > 光学元件平行度测量

光学元件平行度测量

简要描述:

光学元件平行度测量,检测光学元件上不正确的轮廓,测量形状怪异几何体上的透明或不透明目标。操作使用简单,检测效率高。

更新时间:2019-10-21访问量:278

光学元件平行度测量,检测光学元件上不正确的轮廓,测量形状怪异几何体上的透明或不透明目标。操作使用简单,检测效率高。

光学元件平行度测量,检测光学元件上不正确的轮廓,测量形状怪异几何体上的透明或不透明目标。操作使用简单,检测效率高。

光学元件平行度测量,检测光学元件上不正确的轮廓,测量形状怪异几何体上的透明或不透明目标。操作使用简单,检测效率高。

光学元件平行度测量,检测光学元件上不正确的轮廓,测量形状怪异几何体上的透明或不透明目标。操作使用简单,检测效率高。

光学元件平行度测量,检测光学元件上不正确的轮廓,测量形状怪异几何体上的透明或不透明目标。操作使用简单,检测效率高。

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
武汉顿杰测量仪器有限公司

武汉顿杰测量仪器有限公司

地址:武汉经济技术开发区新都国际C座二单元602室

© 2021 版权所有:武汉顿杰测量仪器有限公司  备案号:鄂ICP备19019215号-2  总访问量:133063  站点地图  技术支持:化工仪器网  管理登陆

QQ在线客服
联系方式

15871804560

027-84210039