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镀层测厚X射线荧光光谱仪

简要描述:

Thick 680 是根据多年的贵金属检测技术和经验,以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成

更新时间:2017-12-29访问量:1215

镀层测厚X射线荧光光谱仪性能特点

专业贵金属检测
内置信噪比增强器,可有效提高仪器信号处理能力25倍以上
智能贵金属软件,与仪器相得益彰
任意多个可选择的分析和识别模型
多变量非线性回收程序

镀层测厚X射线荧光光谱仪技术指标

X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管,Be窗
标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等
X射线管:管电压50KV,管电流1mA
可测元素:Ti~U
检测器:正比计数管
样品观察:CCD摄像头
测定软件:薄膜FP法、检量线法
Z轴程控移动高度 20mm

标准配置

X射线管,正比记数盒,高清摄像头,高度激光,信号检测电子电路。

应用领域

黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测
主要用于贵金属加工和首饰加工行业

 

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